Android内存监控与分析三部曲（一）

本文由马华平撰写，围绕APP测试中常见的内存泄漏（Memory Leak）和内存溢出（Out of Memory, 简称OOM）问题进行探讨。文章分为三部分，分别讲述内存泄漏与内存溢出的表现形式、最常见的测试场景、内存泄漏原理分析和内存分析实例演示，旨在帮助读者快速准确地定位常见内存问题。

文章首先解释内存泄漏和内存溢出的表现形式，内存泄漏指的是内存不断增长并未释放，可能导致应用卡顿或响应慢，而内存溢出则是由于内存不足导致的APP崩溃。同时，介绍了最常见的内存泄漏测试场景，例如加载网络资源未能及时释放导致的泄漏。

在监控与分析工具的选择上，文章提到如果有源码可以使用Android Monitor和MAT（Memory Analyze Tool），若无源码则推荐使用DDMS+MAT。实际测试中，通过模拟内存泄漏场景，进行操作并监控APP内存情况，通过Android Monitor观察内存增长情况并触发垃圾回收，以此来判断是否存在内存泄漏。

确定内存泄漏后，可通过Android Studio或MAT工具分析内存“快照”hprof文件，寻找哪些对象占用较多内存，以便与开发人员共同分析内存泄漏的根本原因。文章最后提到，下一篇文章将深入分析内存泄漏的原理，并感谢了一些对作者有帮助的人和资源。

文章结尾部分是一些广告和推广内容，如测试开发试听课的链接，学习建议，以及相关的自动化测试课程和产品测试规范信息。