系统测试缺陷检出密度越大越好吗？

这篇文章探讨了一个在软件开发领域经常被讨论的话题：系统测试中缺陷检出密度的理想状态是多少。不同的角度对于缺陷检出的看法有所不同。开发人员希望在开发阶段就能发现所有缺陷，以便修复，从而在系统测试时发现的缺陷越少越好。而测试人员则希望在系统测试时能发现尽可能多的缺陷，以确保不将问题留给客户。

文章提出了一个问题：在组织级别上，应该将系统测试缺陷检出密度定义为越高越好，还是越低越好？并且探讨了系统测试缺陷检出密度是否能够真实反映产品质量。作者认为产品质量应该以上线后的缺陷数量和缺陷逃逸率来衡量，理想情况下这两个指标都应尽可能低。

文章进一步分析了系统测试缺陷检出密度与产品上线后的缺陷密度之间的关系，并用一张抛物线图来说明这一点。在抛物线的左半边，系统测试中检出的缺陷越多，上线后的产品质量越差；而在右半边，情况正好相反，检出的缺陷越多，意味着上线后的缺陷越少，产品质量越好。文章指出，不同公司可能处于抛物线的不同阶段，因此需要分析历史数据来找到一个临界点。

作者还提到了软件可靠性增长模型，说明随着时间推移，系统测试中发现的缺陷数量会增加，而产品中隐藏的缺陷数量会减少，从而提高了产品的可靠性。

总结来说，文章强调了缺陷清除率的重要性，理想状态是有很高的缺陷清除率和很低的缺陷逃逸率，以确保产品上线时质量高且无遗留缺陷。